Carrera de eje X | 140 mm |
Carrera de eje Y | mm |
Carrera de eje Z | mm |
Sujeto a cambio de parámetros técnicos.
Contour measuring station, with 140 mm measuring path. Resolution: max. 6 nm (with 210 mm probe arm), PC + software in price.
Año de fabricación: | 0 |
Carrera de eje X | 500 mm |
Carrera de eje Y | 700 mm |
Carrera de eje Z | 400 mm |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2006 |
Carrera de eje X | 5500 mm |
Carrera de eje Y | 2000 mm |
Carrera de eje Z | 2500 mm |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2018 |
Carrera de eje X | 900 mm |
Carrera de eje Y | 1000 mm |
Carrera de eje Z | 600 mm |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2007 |
Carrera de eje X | 1000 mm |
Carrera de eje Y | 650 mm |
Carrera de eje Z | 400 mm |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2021 |
Carrera de eje X | 1200 mm |
Carrera de eje Y | 2400 mm |
Carrera de eje Z | 800 mm |
Sistema de control | No |